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基于Phasics專li的四波橫向剪切干涉技術(shù)和高質(zhì)量的InGaAs探測器,提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm,這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準(zhǔn)直接進(jìn)行測量。 Phasics 波前傳感器
Phasics 波前傳感器SID4-UVHR是*適用于光學(xué)元件的特性(用于光刻技術(shù)、半導(dǎo)體…)和表面檢查(透鏡和晶片…)。由于它小巧,易于使用,能有效地適應(yīng)各種實驗條件。
Phasics 波前傳感器基于Phasics四波橫向剪切干涉技術(shù)的SID NIR波前傳感器波長范圍覆蓋1.5- 1.6μm,具有超高分辨率(160x120測量點)。
phasics真空環(huán)境兼容波前分析儀SID4-V是目前市場上一款可應(yīng)用于真空度在10-6 mbar環(huán)境中的波前分析儀,廣泛應(yīng)用于高功率激光測試中。
高分辨近紅外波前分析儀 基于Phasics專li的四波橫向剪切干涉技術(shù)和高質(zhì)量的InGaAs探測器,提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm,這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準(zhǔn)直接進(jìn)行測量。
產(chǎn)品介紹:法國Phasics SID4系列波前分析儀(上海屹持光電代理),基于其波前測量——四波橫向剪切干涉技術(shù)(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)型,這種*的技術(shù)將超高分辨率和超大動態(tài)范圍結(jié)合在一起。任何應(yīng)用下,其都能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。
metrolux 夏克-哈德曼波前分析儀WFS Metrolux 夏克-哈德曼波前分析儀 WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布,也可高精度的測量光學(xué)器件的像差。可以用于手機(jī)和相機(jī)的鏡頭等光學(xué)透鏡質(zhì)量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監(jiān)控器配合外部軟件可用于波前數(shù)據(jù)分析。
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