SM303TE 制冷背照式光譜儀

        SM303 TE 制冷背照式光譜儀是一款科研級，高性價比，高信噪比，高量子效率，低雜散光的光譜儀。是測量弱光源的優(yōu)秀選擇。SM303采用濱松 S10420-1106 背照式CCD，1024像素，具有較高的分辨率和靈敏度。SM303 TE 制冷背照式光譜儀在紫外波段表現(xiàn)尤為出色，而且動態(tài)范圍高。它可以提供850nm的測量范圍。有效光譜測量范圍：200-1050nm。制冷型探測器通過降低噪聲水平可以探測到很低的信號光。

光譜儀軟件包括基于Windows的SM32光譜采集和分析軟件，以及SDK和DLLs供客戶自行開發(fā)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

• 半導(dǎo)體工業(yè)過程診斷

• 光源/ 頻譜分析樣本

• 顏色/ 熒光測量

• 生物/ 化學(xué)/ 生物化學(xué)/ 醫(yī)療的應(yīng)用程序

• 糧食和農(nóng)業(yè)/ 污染測量

• 化工/ 塑料/ 聚合物分析

• 石化/ 藥物分析

產(chǎn)品特點：

• 科研級別高性能高性價比

• 低暗電流噪聲和雜散光

• 大的動態(tài)范圍和高信噪比

• 高紫外量子效率

• 由狹縫和光纖自由選擇輸入

• 多功能設(shè)計

• 高速數(shù)據(jù)采集

• 測量范圍200-1050nm

產(chǎn)品參數(shù)：