太赫茲棱鏡THz ATR Elements

簡(jiǎn)要描述：太赫茲棱鏡THz ATR Elements
Tydex可以提供以下規(guī)格的太赫茲棱鏡：
—— 傳統(tǒng)（直角）棱鏡。這類產(chǎn)品主要用于光學(xué)設(shè)計(jì)
—— 衰減全反射（ATR）棱鏡。這類棱鏡用于分析那些難以用常規(guī)透射方法來分析的材料。

產(chǎn)品型號(hào)：THz Prism
更新時(shí)間：2024-08-05
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太赫茲

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

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應(yīng)用領(lǐng)域	電子

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產(chǎn)片簡(jiǎn)介

Tydex可以提供以下規(guī)格的太赫茲棱鏡

—— 傳統(tǒng)（直角）太赫茲棱鏡。這類產(chǎn)品主要用于光學(xué)設(shè)計(jì)

—— 衰減全反射（ATR）。這類棱鏡用于分析那些難以用常規(guī)透射方法來分析的材料。

由于某些特殊材料存在菲涅爾反射和對(duì)光的強(qiáng)烈吸收，用吸收光譜來分析此類材料幾乎是不可能的。對(duì)于這種情況，研究這類吸收材料zui適用的方法就是衰減全反射。這個(gè)方法基于此效應(yīng)：光在光密介質(zhì)n₀和吸收介質(zhì)（有較小的折射率n）界面，以大于全反射臨界角θc=arcsin(n/n₀)入射時(shí)，反射效率會(huì)因?yàn)橘渴挪ㄅc被測(cè)材料表面等離子體相耦合而衰減。此反射效率依賴于入射角、偏振方向和被測(cè)材料的折射率。正確的選擇棱鏡參數(shù)（尤其是棱鏡角度）會(huì)獲得好的ATR光譜。在THz光譜內(nèi)使用衰減全內(nèi)反射方法可以研究材料在10²-10⁴cm^-1(1um-100um:沒引入2π)光譜范圍內(nèi)的吸收效率。

規(guī)格參數(shù)

材料	高阻硅
尺寸公差，mm	±0.2
角度公差，mm	±30
表面平整度，scr（斑）/dig（坑）	80/50
拋光面的表面平整度，Ra	2.5
表面精確度，mm	±0.01相對(duì)于理想平面